Microscopio electrónico de barrido, Microscopio SEM

Resolución espacial: 0,4 nm
Aumento: 3.000.000 unidades

Microscopio electrónico de barrido de ultra alta resolución SU9000 La fuente de emisión de campo frío es ideal para imágenes de alta resolución con un tamaño de fuente pequeño y una dispersión.

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